噪声建模与标定

统计特征引导的高分辨透射电子显微镜快速成像去噪

Statistical Characteristic-Guided Denoising for Rapid High-Resolution Transmission Electron Microscopy Imaging

把统计特征（空间偏差、频带能量）作为权重来调制卷积核与频域增益，是一种可迁移到其他强噪声成像域（低剂量 CT、荧光显微、天文成像）的去噪先验注入方式；其针对特定成像模态的噪声标定与仿真数据生成流程也值得在数据稀缺的科学成像任务中复用。